逻辑和存储器 BIST 如何帮助满足汽车 IC 的功能安全需求

逻辑和存储器 BIST 如何帮助满足汽车 IC 的功能安全需求

会议: SNUG SpyGlass 专题 作者: Christophe Eychenne, Robert Bosch SAS, Sophia Antipolis, France 页数: 35

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摘要

ISO 26262 道路车辆功能安全标准对汽车 IC 提出了严格的安全要求，包括在运行期间进行故障检测、故障响应和安全状态管理。BIST 内建自测试（Built-In Self-Test）技术在这方面发挥着关键作用，它允许芯片在系统运行期间（in-system）对上电时（power-on）进行自我测试，从而检测可能在现场出现的潜在故障。

本文介绍了 Bosch 团队在汽车 IC 中使用逻辑 BIST 和存储器 BIST 来满足功能安全需求的经验。涵盖的主要内容包括：

1. ISO 26262 功能安全标准对 IC 测试的要求概述 2. 逻辑BIST Logic BIST（DFTMAX LogicBIST）在检测逻辑电路潜在故障中的应用 3. 存储器BIST Memory BIST（STAR Memory System）在检测嵌入式存储器故障中的应用 4. 上电自测试 POST（Power-On Self-Test）和系统内自测试的实现策略 5. BIST 覆盖率与安全完整性等级（ASIL）之间的关系 6. 实际汽车 IC 项目中的应用案例和硅验证结果

本文展示了如何通过合理部署逻辑和存储器 BIST 来有效降低汽车 IC 的现场失效率，满足严格的功能安全要求。

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图片索引

共 35 张图片，存放于 _images/ 目录。涵盖 ISO 26262 架构图、BIST 实现流程图、覆盖率分析数据、POST 时序图等。